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      1. 产品中心
        • MC-3000S/FN30两用涂层测厚仪
          MC-3000S/FN30两用涂层测厚仪,巧妙的把电涡流测厚仪和涂镀层测厚仪结合在一起。用户可以根据现场需要,任意选择铁磁性测厚探头或者涡流测厚探头来测量磁性金属或者非磁性金属上的涂层厚度。MC-3000S/FN30两用涂层测厚仪极大的增加了仪器的应用范围。MC-3000S/FN30两用涂层测厚仪既可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,也可以方便无损地测量非磁性金属基体上非导电涂层。
        • MC-3000B涂层测厚仪
          MC-3000B一体式涂层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。MC-3000B涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。MC-3000B涂层测厚仪符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
        • MC-3001涂层测厚仪
          MC-3001通用型全分体式涂层测厚仪是在MC-3000B/S系列的基础上升级的一款全量程、多功能的分体涂镀层测厚仪。MC-3001涂层测厚仪可以配置科电仪器的所有分体探头,一台主机既可以使用磁性探头,又可以使用非磁性探头,MC-3001涂层测厚仪也可以选择内防腐探头等各种定制探头。用户根据需要可以选择一只或者多只探头进行任意匹配;根据探头的型号不同,对应的测量范围,测量材料也相应不同。
        • MC-3000S分体式涂层测厚仪
          MC-3000S分体式涂层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。MC-3000S分体式涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。MC-3000S分体式涂层测厚仪符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
        • MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪
          MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪,巧妙的把电涡流测厚仪和涂镀层测厚仪结合在一起。用户可以根据现场需要,任意选择铁磁性测厚探头或者涡流测厚探头来测量磁性金属或者非磁性金属上的涂层厚度。极大的增加了仪器的应用范围。该型号涂层测厚仪既可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。也可以方便无损地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度,如铜、铝、锌、锡等金属上的油漆、橡胶、塑料、氧化膜等。MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪,采用独创的偏差自动跟踪技术使测量值,探头采用德国工艺标准进行加工,并使用新型合金材料使探头的使用寿命大幅度提升。
        • MCW-2010A(涡流)涂层测厚仪
          MCW-2010A(涡流)涂层测厚仪是科电公司的新型产品。MCW-2010A(涡流)涂层测厚仪采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷;且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已经达到国际同类仪器的先进水平。
        • MC-2010A涂层测厚仪
          MC-2010A涂层测厚仪是科电公司高新技术的结晶。MC-2010A涂层测厚仪采用单片机技术,测量精度高、数字显示、操作简单方便、触摸按键、内置探头全量程测量、体积小、重量轻; 强大的抗干扰能力,求值更稳定;且具有低电压指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已达到当代国际同类仪器的先进水平。 MC-2010A涂层测厚仪应用范围:本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
        • MCW-2000B(涡流)涂层测厚仪
          MCW-2000B(涡流)涂层测厚仪是高新技术的结晶,MCW-2000B(涡流)涂层测厚仪采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻;MCW-2000B(涡流)涂层测厚仪具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
        • MC-2000D涂层测厚仪
          MC-2000D涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:10~9000um,是高新技术的结晶,MC-2000D涂层测厚仪采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
        • MC-2000C涂层测厚仪
          MC-2000C涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~5000um,MC-2000C涂层测厚仪是高新技术的结晶,采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
        • MC-2000A涂层测厚仪
          MC-2000A涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~1200um,是高新技术的结晶,MC-2000A涂层测厚仪采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
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